x射線雙晶衍射搖擺曲線

x射線雙晶衍射搖擺曲線

國標（北京）檢驗認證有限公司，針對單晶基片及其完美性分析或點陣失配外延層薄膜（晶體完整性和異質外延結構），通過高分辨x射線衍射測量（x射線雙晶衍射搖擺曲線）提供微結構、微成分和微缺陷等方面的大量信息。

國標（北京）檢驗認證有限公司，是中國權威的第三方金屬檢測機構，實驗室通過iso 17025國家實驗室認可（cnas），中國計量認證（cma），國際航空材料認證（nadcap），為客戶提供科學的產品檢測、評價方案，滿足進出口及工程檢測等各種需求。  

關鍵詞：繪制衍射圖譜，物相定性分析，物相定量分析，極圖測定，宏觀應力測試，宏觀應力檢測，宏觀應力分析，微觀應力分析，微觀應力檢測，微觀應力測試，織構分析，晶粒度測試，點陣常數測定，點陣常數測試，點陣常數檢測，晶體取向分析，殘余應力測試，殘余應力分析，殘余應力檢測。