掃描電子顯微鏡分析

掃描電子顯微鏡分析

關(guān)鍵詞：掃描電鏡分析，掃描電鏡檢測(cè)，掃描電鏡測(cè)試，掃描電子顯微鏡檢測(cè)，掃描電子顯微鏡測(cè)試

國(guó)標(biāo)（北京）檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司電鏡室，配備三臺(tái)掃描電鏡，jsm-7001f 場(chǎng)發(fā)射型掃描電鏡，jsm-6510以及jsm-840 掃描電鏡。其中，jsm-7001f配備了eds與ebsd 一體化分析系統(tǒng)，不僅能夠開(kāi)展高分辨的二次電子像觀察，還可以實(shí)現(xiàn)各種晶體材料的形貌、成分、結(jié)構(gòu)及取向分布的一體化分析。jsm-6510配備了能譜儀及 mla 礦物分析軟件，能夠自動(dòng)快速測(cè)定礦物組成及含量。

國(guó)標(biāo)（北京）檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司，是中國(guó)權(quán)威的第三方金屬檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室通過(guò)iso 17025國(guó)家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可（cnas），中國(guó)計(jì)量認(rèn)證（cma），國(guó)際航空材料認(rèn)證（nadcap），為客戶(hù)提供科學(xué)的產(chǎn)品檢測(cè)、評(píng)價(jià)方案，滿(mǎn)足進(jìn)出口及工程檢測(cè)等各種需求。